JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡,RT RC-04測(cè)試卡詳細(xì)介紹:
JIMA(日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)),致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器,其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器,JIMA分辨率測(cè)試卡,用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡
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測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
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盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm
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芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm
圖案布局:T型
線/空間尺寸:32種規(guī)格圖案,
0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,
0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm,7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,
JIMA RT CT-01分辨率測(cè)試卡(專用于三維CT系統(tǒng)分辨率測(cè)試)
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測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
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圖案布局:T型
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線/空間尺寸:5種規(guī)格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm
JIMA RT RC-02分辨率測(cè)試卡
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測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
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盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm
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芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm
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圖案布局:L型
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線/空間尺寸: 16種規(guī)格圖案,
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,
2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡
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測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
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盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm
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芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm
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圖案布局:T型 (3-10μm)
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I 型 (15-50μm)
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線/空間尺寸:16種規(guī)格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm (T型)
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
SAG:
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